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宁德Wafer Bump&Wire Bonding 3D AOI

宁德Wafer Bump&Wire Bonding 3D AOI

  • 所属分类:宁德光学检测仪 3D AOI

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  • 详细介绍

3D Wafer Bump(晶元锡焊)、Wire Bonding(引线键合)AOI检测系统

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高精度3D Wafer(晶元)检测精密解析度配置可实现针对Foot形态元件的整体检测

可直接检测镜面元件,避免反光问题

奔创特有的3D技术 实现元件的精准3D成型,机器镜头采用同轴照明辅助2D检测。

支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各种封装方式的解决方案

AOI + SPI 混合检测系统

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精密解析度实现针对Bump、Mini LED、009004等各种微型、密集型元件的3D检测 

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本文网址:http://www.semismt.com/product/911.html

关键词:3DAOI,WaferBump,WireBonding

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